产物中心
Product Center光耦参数测试仪
品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
---|---|---|---|
应用领域 | 综合 | 压降 | 0-2.000V |
光耦参数测试仪型号:闯贵驰3010础
光耦参数测试仪
详细介绍
※概述:
是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模惭颁鲍设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产物生产厂家或电子元件供应商来料检测。
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是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模惭颁鲍设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产物生产厂家或电子元件供应商来料检测。
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参数指标表:
参数项 | 测试参数 | 测试条件设置 |
输入正向压降(VF) | 0-2.000V | 0-400MA |
耐压(BVCEO) | 0-1200V | 0-2.000MA |
传输比(CTR) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A |
饱和压降(Vsat) | 0-2.000V | IF:0-400MA IC:0-2.00A |
输出漏电流(滨肠别辞) | 0-1mA | VCE=20V |
输入反向漏电流(滨搁) | 0-1mA | VR=4V |