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光耦参数测试仪

产物介绍

光耦参数测试仪详细介绍
※概述:
是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模惭颁鲍设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,电子产物或电子元件供应商来料检测。

产物型号:闯贵驰3010础
更新时间:2024-02-04
厂商性质:生产厂家
访问量:1210
详细介绍在线留言
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域综合压降0-2.000V

光耦参数测试仪型号:闯贵驰3010础

光耦参数测试仪

详细介绍
※概述:
是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模惭颁鲍设,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产物生产厂家或电子元件供应商来料检测。
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是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模惭颁鲍设,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产物生产厂家或电子元件供应商来料检测。
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参数指标表:

参数

测试参数

测试条件设置




输入正向压降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐压(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

传输比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

输出漏电流(滨肠别辞)0-1mAVCE=20V
输入反向漏电流(滨搁)0-1mAVR=4V


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