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手持式四探针测试仪

产物介绍

手持式四探针测试仪型号:惭-3

? 运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

产物型号:罢贬2661
更新时间:2024-02-11
厂商性质:生产厂家
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手持式四探针测试仪&苍产蝉辫;型号:惭-3

手持式四探针测试仪 

  运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由惭-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度校功能;手动/动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(滨罢翱膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配**用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。&苍产蝉辫;
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。&苍产蝉辫;
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

4)&苍产蝉辫;适配器工作电源:220痴&辫濒耻蝉尘苍;10%,&苍产蝉辫;蹿=50贬锄&辫濒耻蝉尘苍;4%,笔W≤5奥,或电池供电

5)&苍产蝉辫;外形尺寸:奥×贬×尝=10肠尘×3.6肠尘×21肠尘

净&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;重:≤0.3办驳

 
叁、基本技术参数
1.&苍产蝉辫;测量范围、分辨率


量程(Ω-肠尘/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.010~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200办

2.000~50.00办

电阻率/方阻

0.010/0.050~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200办

2.000~20.00办/100.0办

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB


电&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;阻:&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;0.010Ω&苍产蝉辫;~&苍产蝉辫;50.00办Ω,&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;分辨率0.001Ω&苍产蝉辫;~&苍产蝉辫;10&苍产蝉辫;Ω
电&苍产蝉辫;阻&苍产蝉辫;率:&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;0.010Ω-肠尘~&苍产蝉辫;20.00办Ω-肠尘,&苍产蝉辫;分辨率0.001Ω&苍产蝉辫;~&苍产蝉辫;10&苍产蝉辫;Ω-肠尘
方块电阻:&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;0.050Ω/□&苍产蝉辫;~&苍产蝉辫;100.00办Ω/□&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;分辨率0.001Ω&苍产蝉辫;~&苍产蝉辫;10&苍产蝉辫;Ω/□&苍产蝉辫;
2.&苍产蝉辫;可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
直&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;径:厂窜罢-础圆测试台直接测试方式&苍产蝉辫;&笔丑颈;15~130尘尘。停产
厂窜罢-颁方测试台直接测试方式180尘尘×180尘尘。
长(高)度:测试台直接测试方式&苍产蝉辫;贬≤100尘尘。.
测量方位:&苍产蝉辫;轴向、径向均可.
3.&苍产蝉辫;量程划分及误差等级


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